-
運算放大器和輸入訊號濾波電路提供條件電路並調整分流壓降以適應 ADC 輸入電壓範圍。
相電流採樣技術是檢測相電流差以及透過重構獲取定子電流的完整三相資訊的關鍵問題。流經分流電阻器的相電流會產生電壓降，當低側電晶體導通時，AD 轉換器需要對此電壓降進行適當取樣。分流電阻無法在任意時刻測量電流。這是因為只有當相應逆變器支路的底部電晶體導通時，電流才流過分流電阻器。因此，請考慮圖 5 所示的圖表。
-
在第 6 頁上，A 相電流是使用 R38 分流電阻測量的，並且只有在電晶體 Q4 導通時才能取樣。相應地，只有電晶體Q5導通才能測量B相電流，只有電晶體Q6導通才能測量C相電流。為了獲得電流感測的實際瞬間，必須執行電壓波形分析。第 7 頁的圖 6 描述了兩個不同 PWM 週期的 A 相、B 相和 C 相產生的佔空比。從第一個 PWM 週期可以看出，相電流的最佳取樣時刻是在 PWM 週期的中間，此時所有底部電晶體都導通。
在標準馬達操作中，所提供的電壓是使用空間向量調製產生的，相電流的取樣時刻發生在所有底部電晶體都導通的 PWM 週期的中間。如果所應用的空間向量調製（SVM）技術的調製指數增加，則底部電晶體之一會在非常短的時間內導通。因此，僅測量兩個電流，第三個電流根據以下公式計算：
ia + ib + ic = 0
因此，三相電流重建需要低側開關的最小導通時間。
